LONGPEAK靜電放電發(fā)生器是模擬靜電放電場(chǎng)景、考核電子電氣產(chǎn)品抗靜電性能的關(guān)鍵設(shè)備，廣泛用于家電、汽車電子、通信設(shè)備等領(lǐng)域的EMC測(cè)試。操作中若存在誤區(qū)，易導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)失真、設(shè)備損壞，甚至引發(fā)安全隱患。以下梳理4類常見(jiàn)誤區(qū)及對(duì)應(yīng)避免方法。?一、誤區(qū)一：忽視放電槍校準(zhǔn)，直接開(kāi)展測(cè)試?部分用戶認(rèn)為“新設(shè)備無(wú)需校準(zhǔn)”，或長(zhǎng)期不校準(zhǔn)放電槍，直接用其進(jìn)行測(cè)試。LONGPEAK靜電放電發(fā)生器的放電槍電極易因磨損、污染導(dǎo)致放電電流偏差，若不校準(zhǔn)，可能將合格產(chǎn)品誤判為不合格，或遺漏真實(shí)抗...

掃描電鏡測(cè)試數(shù)據(jù)蘊(yùn)含著豐富的微觀結(jié)構(gòu)信息，對(duì)其進(jìn)行定量分析在科研領(lǐng)域有著至關(guān)重要的意義。在定量分析方面，首先是對(duì)圖像中特征尺寸的測(cè)量。通過(guò)專業(yè)的圖像分析軟件，可以精準(zhǔn)地量取材料微觀結(jié)構(gòu)的粒徑大小、孔隙直徑等關(guān)鍵尺寸參數(shù)。例如在納米材料研究中，準(zhǔn)確知曉納米顆粒的直徑分布范圍，能為評(píng)估其性能及進(jìn)一步改進(jìn)制備工藝提供依據(jù)。同時(shí)，對(duì)于晶界、相界等界面的距離測(cè)量也很重要，有助于了解材料的結(jié)晶特性以及不同相之間的相互作用情況。另外，對(duì)元素成分的定量分析也是重要一環(huán)。結(jié)合能譜儀等附件所獲取...

在半導(dǎo)體器件制造與質(zhì)量檢測(cè)過(guò)程中，閂鎖效應(yīng)(Latch-up)測(cè)試是一項(xiàng)至關(guān)重要的可靠性評(píng)估項(xiàng)目。由于CMOS等工藝結(jié)構(gòu)的固有特性，芯片在受到特定電壓、電流或輻射干擾時(shí)可能引發(fā)寄生雙極晶體管導(dǎo)通，導(dǎo)致器件損壞。為預(yù)防此類風(fēng)險(xiǎn)，半導(dǎo)體閂鎖測(cè)試儀被廣泛用于評(píng)估集成電路對(duì)閂鎖效應(yīng)的抗擾能力。掌握其基本操作流程，是確保測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確、設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行的前提。一、測(cè)試前準(zhǔn)備1.確認(rèn)測(cè)試樣品狀態(tài)檢查待測(cè)芯片是否完好無(wú)損，引腳無(wú)彎曲、氧化或短路現(xiàn)象。同時(shí)查閱芯片規(guī)格書，明確其供電電壓范圍、較大工...

EMKU環(huán)境測(cè)試箱是廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、通信、材料等領(lǐng)域的關(guān)鍵設(shè)備，用于模擬高溫、低溫、濕熱、循環(huán)溫濕度等多種環(huán)境條件，以檢測(cè)產(chǎn)品在不同環(huán)境下的性能穩(wěn)定性與可靠性。對(duì)于初次接觸該設(shè)備的新手來(lái)說(shuō)，掌握其基本操作流程和注意事項(xiàng)，不僅能提升測(cè)試效率，還能有效延長(zhǎng)設(shè)備使用壽命，避免誤操作帶來(lái)的安全隱患。一、開(kāi)機(jī)前的準(zhǔn)備事項(xiàng)在使用EMKU環(huán)境測(cè)試箱之前，必須做好以下準(zhǔn)備工作：檢查電源連接：確認(rèn)供電電壓是否符合設(shè)備要求(通常為220V或380V)，并確保接地良好；查看制冷系統(tǒng)...

學(xué)習(xí)如何安裝日本TET半導(dǎo)體靜電測(cè)試儀可以在短時(shí)間內(nèi)完成，只要您遵循以下步驟和建議：1.仔細(xì)閱讀用戶手冊(cè)-在開(kāi)始之前，認(rèn)真閱讀并理解用戶手冊(cè)中的安裝說(shuō)明和安全指南。-對(duì)照手冊(cè)檢查所有配件和附件是否齊全，包括測(cè)試儀本體、電源線、接地線、測(cè)試夾具等。2.準(zhǔn)備工作-確保工作臺(tái)平整且穩(wěn)定，以防止在安裝過(guò)程中發(fā)生傾覆。-收集所有必要的工具，如螺絲刀、扳手等，并確保它們都是絕緣的。3.安裝測(cè)試儀-根據(jù)手冊(cè)中的圖示，將測(cè)試儀放置在合適的位置，并固定好。-連接電源線，并確保電源電壓與測(cè)試儀的...

日本半導(dǎo)體閂鎖測(cè)試儀是一種高精度的電子設(shè)備，用于測(cè)試半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性。盡管這類設(shè)備通常設(shè)計(jì)得相當(dāng)可靠，但像所有電子產(chǎn)品一樣，它們也需要一定的維護(hù)和保養(yǎng)，以確保長(zhǎng)期的準(zhǔn)確性和效率。1.清潔與除塵-定期清潔測(cè)試儀的外殼和接口，避免灰塵和臟污影響設(shè)備的散熱和電氣接觸。-使用干燥、無(wú)靜電的布料輕輕擦拭液晶屏幕和其他敏感部位，以防止劃痕和污染。2.內(nèi)部檢查-定期檢查內(nèi)部連接器和插頭，確保它們牢固可靠。-檢查內(nèi)部線路是否有松動(dòng)或腐蝕，如有問(wèn)題應(yīng)及時(shí)處理。3.電池維護(hù)-如果測(cè)試儀配...